主要技术内容
将粉末样品制成适合于X射线荧光光谱仪测量的压片，通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X
射线的波长（或能量）和强度，获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的，根据校
准曲线或方程式计算，对元素间干扰效应进行校正，获得样品中待测成分的含量。
适用范围
本文件规定了测定陶瓷原料中多种成分X射线荧光光谱法（粉末压片）的原理、试剂和材料、仪器
设备、试样制备、分析步骤、结果计算、精密度及实验报告。
本文件适用于陶瓷原料中SiO2、Al2O3、MgO、K2O、CaO、TiO2、MnO、Fe2O3、P2O5、SO3、BaO、Cr2O3、
V2O3、Ni、Cu、Zn、Sr、Zr、Pb、Rh、Cl等元素的测定，测定范围见附录A。
是否包含专利
否
