主要技术内容
本文根据多层片式瓷介电容器在电子设备中长期服役的可靠性评价需要,给出了老化测试的基本原理、试验设备及测量仪器的技术条件、试样抽取规则和预处理要求、测试环境条件的设定及控制精度、各种老化试验的操作程序和时间参数、测试数据的处理方法和合格判定的阈值标准,确定了高温负荷老化、温湿度偏压老化、温度循环冲击老化这三种测试方法的技术特点和适用对象,规范了老化试验箱内温度场均匀性标定、施加电压的波动范围控制、测试间隔时间节点的选择原则,提出电容量变化率、损耗角正切值、绝缘电阻等核心性能参数老化前后变化的测量要求和判定准则。
适用范围
本文件适用于片式多层陶瓷电容器在可靠性评价中的老化测试工作,其他类型多层陶瓷电容器的老化测试可参照执行。
是否包含专利
否