主要技术内容
4 测试条件?
环境条件?
测试环境需排除外界干扰对制冷系统稳定性及信号检测的影响，具体要求如下：
a)环境温度：(23±5)℃，测试期间温度波动≤±1℃/h；
b)相对湿度：(45±5)%，无结露现象；
c)大气压力：(86～106) kPa，压力波动≤±2kPa/h；
d)电磁屏蔽：在 10MHz～1GHz 频率范围内，屏蔽效能≥30dB
e)振动控制：在 10Hz～500Hz 频率范围内，振动加速度≤0.1g，避免制冷机与测试台共振；
f)光照条件：无强光直射（环境光强≤100 lx），防止杂散光干扰探测器光敏面。
供电与接地
a)供电要求：按探测器技术手册提供稳压电源，输出电压波动≤±0.5%，纹波系数≤1%（ “在满载状态下测试纹波系数”，确保实际工作条件下的供电稳定性）；
b)接地要求：测试系统采用单点接地，接地电阻≤1Ω，接地引线长度≤3m，避免接地环路引入干扰。
制冷条件
a)制冷方式选择：根据探测器类型确定（如单元探测器常用液氮制冷，阵列探测器常用斯特林制冷），制冷设备需符合探测器技术手册的制冷功率要求；
b)温度控制：探测器芯片工作温度需控制在技术手册规定范围，温度偏差≤±0.1K（如无手册规定，默认控制在 80K～120K，适配多数制冷型探测器）；
c)稳定监测：制冷过程中，需实时监测芯片温度（采样频率≥1Hz），待温度稳定 10min 后再启动测试，避免温度漂移影响参数准确性；
d)制冷系统保护：测试前需检查制冷设备的冷却液（如液氮）储量、压力状态，确保测试期间无中断（如液氮制冷需预留≥50% 的储量冗余）。
适用范围
本文件规定了制冷型红外探测器参数测试的测试条件、测试设备、测试项目与方法、数据处理、质量控制和报告的要求。
本文件适用于各类制冷型红外探测器参数测试。
是否包含专利
否
