主要技术内容
本文件规定了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定卤化物光学晶体中微量元素的原理、干扰和消除、试剂或材料、仪器和设备、样品、实验步骤、质量保证和质量控制等。
本文件适用于卤化物光学晶体(CsI/NaI)、原料以及类似的卤化物光学晶体材料中钙(Ca)、镁(Mg)、铬(Cr)、铅(Pb)、铜(Cu)、钛(Ti)、铁(Fe)、镱(Y)、铕(Eu)、铈(Ce)、镧(La)、铊(Tl)等12种微量元素含量的方法。各元素的方法检出限以及推荐质荷比见附录A。
适用范围
本文件规定了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定卤化物光学晶体中微量元素的原理、干扰和消除、试剂或材料、仪器和设备、样品、实验步骤、质量保证和质量控制等。
本文件适用于卤化物光学晶体(CsI/NaI)、原料以及类似的卤化物光学晶体材料中钙(Ca)、镁(Mg)、铬(Cr)、铅(Pb)、铜(Cu)、钛(Ti)、铁(Fe)、镱(Y)、铕(Eu)、铈(Ce)、镧(La)、铊(Tl)等12种微量元素含量的方法。各元素的方法检出限以及推荐质荷比见附录A。
是否包含专利
否