主要技术内容
用熔融法制成的样片，通过X射线管产生初级X射线照射到样片表面上。测定样品中待测成分特征谱线的荧光 X 射线强度，根据校准曲线和测量的X射线荧光强度，计算出样品中各元素氧化物的质量分数。
表1 测定范围
成分 测定范围（质量分数）%
SiO2 5.0～85.00
MgO 0.50～15.00
Fe2O3 1.00～28.00
Al2O3 4.00～20.00
Cr2O3 1.00～46.00
ZrO2 1.00～42.00
K2O 0.10～2.50
Na2O 0.10～2.50
适用范围
本文件描述了用波长色散X射线荧光光谱法测定钢包引流砂中硅、镁、铁、铝、铬、锆、钾、钠的含量。
本文件适用于分析钢包引流砂中硅、镁、铁、铝、铬、锆、钾、钠含量的测定。
是否包含专利
否
