主要技术内容
本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的带状线测试方法，包括原理、环境条件、材料、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。
本文件适用于测试高频介质基板及介电材料在微波频率范围内的介电常数和介质损耗角正切。
频率测试范围：f=1GHz~40GHz ；
介电常数测试范围：ε_r^'=2.0~20.0；
损耗角正切值测试范围：tan?〖δ_ε 〗?〖=2.0×10^(-4)~1.0×10^(-2) 〗；
温度测试范围：-50℃~150℃。
适用范围
本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的带状线测试方法，包括原理、环境条件、材料、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。
本文件适用于测试高频介质基板及介电材料在微波频率范围内的介电常数和介质损耗角正切。
频率测试范围：f=1GHz~40GHz ；
介电常数测试范围：ε_r^'=2.0~20.0；
损耗角正切值测试范围：tan?〖δ_ε 〗?〖=2.0×10^(-4)~1.0×10^(-2) 〗；
温度测试范围：-50℃~150℃。
是否包含专利
否
