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中国电子学会自我承诺

  中国电子学会发布的T/CIE 363—2025《宇航级磁随机存储器抗辐照测试方法》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则,按照在本平台公布的《标准制定程序文件_CIE》制定。T/CIE 363—2025《宇航级磁随机存储器抗辐照测试方法》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求,没有侵犯他人合法权益。
  中国电子学会在自愿基础上作出本承诺,并对以上承诺内容的真实性负责。

中国电子学会
2026年03月04日

团体详细信息
团体名称 中国电子学会
登记证号 社证字第4079号 发证机关 中华人民共和国民政部
业务范围 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务
法定代表人/负责人 陈英
依托单位名称 中华人民共和国工业和信息化部
通讯地址 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 邮编 : 100036
标准详细信息
标准状态   现行
标准编号   T/CIE 363—2025
中文标题   宇航级磁随机存储器抗辐照测试方法
英文标题  
国际标准分类号   31.200
中国标准分类号  
国民经济分类   I659 其他信息技术服务业
发布日期   2025年12月01日
实施日期   2025年12月01日
起草人   南天翔、李鹏、王冠鹰、梁先锋、张战刚、何胜宗、陈贤哲、吴涛、邹新波、祝智峰、杨雨梦、何世坤、邵定夫、黄继祥、张瑞夫、柴亚红。
起草单位   清华大学、中国科学技术大学、中国电力科学研究院有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、复旦大学、上海科技大学、浙江驰拓科技有限公司、中国科学院合肥物质科学研究院。
适用范围  
主要技术内容   本文件规定了宇航级磁随机存储器的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等内容。 
本文件适用于宇航级磁随机存储器器件及包含该器件的电子系统。
是否包含专利信息  
标准文本   不公开
标准公告
  标准发布公告 2026/3/4 14:27:20

*由中国电子学会于2026/3/4 14:27:20在团体标准信息平台公布,最后修改时间:2026/3/4 14:27:20

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