中国电子学会自我承诺
中国电子学会发布的T/CIE 306—2025《多维光存储器件数据寿命测试方法》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则，按照在本平台公布的《标准制定程序文件_CIE》制定。T/CIE 306—2025《多维光存储器件数据寿命测试方法》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求，没有侵犯他人合法权益。
中国电子学会在自愿基础上作出本承诺，并对以上承诺内容的真实性负责。
中国电子学会
2026年01月08日
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国电子学会 | ||
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 | ||
| 法定代表人/负责人 | 陈英 | ||
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 | ||
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 | |
| 标准详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 标准状态 | 现行 | ||
| 标准编号 | T/CIE 306—2025 | ||
| 中文标题 | 多维光存储器件数据寿命测试方法 | ||
| 英文标题 | |||
| 国际标准分类号 | 35.220.30 光学存储设备 | ||
| 中国标准分类号 | |||
| 国民经济分类 | I659 其他信息技术服务业 | ||
| 发布日期 | 2025年03月31日 | ||
| 实施日期 | 2025年03月31日 | ||
| 起草人 | 张博、邱建荣、王卓、许贝贝、张启明、谭德志、刘小峰。 | ||
| 起草单位 | 浙江大学、上海理工大学、中国科学院上海光学精密机械研究所、之江实验室。 | ||
| 范围 | |||
| 主要技术内容 | 本文件规定了多维光存储器件数据寿命的测试和计算方法，以评估其在实际使用环境中的长期性能。 本文件适用于各种多维光存储器件的寿命评估，包括但不限于利用超快激光在各种介质内部诱导功能微纳光子结构或通过光学调控和光致变性实现的多维光学信息保存，例如纳米光栅光存储、荧光存储、微相变光存储、超分辨光存储、金属纳米棒光存储等。 |
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| 是否包含专利信息 | 否 | ||
| 标准文本 | 不公开 | ||
| 标准公告 | |||
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| 标准发布公告 | 2025/12/25 13:29:25 | ||
*由中国电子学会于2025/12/25 13:29:25在团体标准信息平台公布，最后修改时间：2025/12/25 13:29:25
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