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中国国际科技促进会自我承诺

  中国国际科技促进会发布的T/CI 1181—2025《半导体晶圆制造用等离子体刻蚀设备通用技术规范》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则,按照在本平台公布的《标准制定程序文件_CI》制定。T/CI 1181—2025《半导体晶圆制造用等离子体刻蚀设备通用技术规范》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求,没有侵犯他人合法权益。
  中国国际科技促进会在自愿基础上作出本承诺,并对以上承诺内容的真实性负责。

中国国际科技促进会
2025年12月15日

团体详细信息
团体名称 中国国际科技促进会
登记证号 51100000500017650Q 发证机关 中华人民共和国民政部
业务范围 技术开发 信息交流 专业展览 业务培训 咨询服务
法定代表人/负责人 许军
依托单位名称
通讯地址 北京市海淀区中关村东路89号恒兴大厦13F 邮编 : 100190
标准详细信息
标准状态   现行
标准编号   T/CI 1181—2025
中文标题   半导体晶圆制造用等离子体刻蚀设备通用技术规范
英文标题   General technical specification for plasma etching equipment for semiconductor wafer fabrication
国际标准分类号   31.080.99 其他半导体分立器件
中国标准分类号  
国民经济分类   C356 电子和电工机械专用设备制造
发布日期   2025年09月30日
实施日期   2025年09月30日
起草人   赵公魄、田修波、莫科伟、张心凤、朱昆、胡恒宁、耿慧远、杜昊、姜金龙、陈亚梯、丁雪苗、伍志军、夏正卫、李彬、施杰、唐正强、邵明昊、王树晓、赵小安。
起草单位   珠海宝丰堂半导体股份有限公司、新铂科技(东莞)有限公司、吉姆西半导体科技(无锡)股份有限公司、安徽纯源镀膜科技有限公司、广东省新兴激光等离子体技术研究院、成都工具研究所有限公司、哈尔滨工业大学、贵州大学、烟台先进材料与绿色制造山东省实验室、深圳市瀚强科技股份有限公司。
范围   本文件规定了半导体晶圆制造用等离子体刻蚀设备的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存。 本文件适用于半导体晶圆制造用等离子体刻蚀设备。
主要技术内容   本文件规定了半导体晶圆制造用等离子体刻蚀设备的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输与贮存。
是否包含专利信息  
标准文本   不公开
标准公告
  标准发布公告 2025/12/14 14:50:28

*由中国国际科技促进会于2025/12/14 14:50:28在团体标准信息平台公布,最后修改时间:2025/12/14 14:50:28

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