上海电子设计自动化发展促进会自我承诺
上海电子设计自动化发展促进会发布的T/EDASQUARE 027—2025《ATE测试数据格式》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则，按照在本平台公布的《标准制定程序文件_EDASQUARE》制定。T/EDASQUARE 027—2025《ATE测试数据格式》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求，没有侵犯他人合法权益。
上海电子设计自动化发展促进会在自愿基础上作出本承诺，并对以上承诺内容的真实性负责。
上海电子设计自动化发展促进会
2025年11月05日
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 上海电子设计自动化发展促进会 | ||
| 登记证号 | 51310000MJ4905543H | 发证机关 | 上海市民政局 |
| 业务范围 | 开展电子设计自动化及相关领域的调查研究，技术创新，编辑出版，标准制定，测试评价，培训与交流，展览展示，承接相关委托事项。（涉及行政许可的，凭许可证开展业务） | ||
| 法定代表人/负责人 | 郑云升 | ||
| 依托单位名称 | |||
| 通讯地址 | 上海市浦东新区龙东大道3000号1幢裙房217-08室 | 邮编 : 201203 | |
| 标准详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 标准状态 | 现行 | ||
| 标准编号 | T/EDASQUARE 027—2025 | ||
| 中文标题 | ATE测试数据格式 | ||
| 英文标题 | Standard of ATE test data format | ||
| 国际标准分类号 | 31.200 | ||
| 中国标准分类号 | |||
| 国民经济分类 | I6520 集成电路设计 | ||
| 发布日期 | 2025年09月12日 | ||
| 实施日期 | 2025年09月12日 | ||
| 起草人 | 陈岚、赵永林、贺铭、陆仁杰、刘培彦、陈恩、陈旭波、刘晓冰、孔鲁宁、秦兆慧、尹敏、唐华兴、章英杰、许文政。 | ||
| 起草单位 | 中国科学院微电子研究所、全芯智造技术有限公司、杭州广立微电子股份有限公司、上海亿瑞芯电子科技有限公司、上海合见工业软件集团有限公司、上海概伦电子股份有限公司。 | ||
| 适用范围 | |||
| 主要技术内容 | 本文件规定了产品芯片在自动测试设备（Auto Test Equipment，简称ATE）上进行电性测试时所输出的文件的格式。 本文件适用于产品芯片如存储器芯片、逻辑芯片、模拟芯片和MEMS等芯片的CP/FT/Fail Cycle log测试场景。 |
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| 是否包含专利信息 | 否 | ||
| 标准文本 | 不公开 | ||
| 标准公告 | |||
|---|---|---|---|
| 标准发布公告 | 2025/10/28 11:14:52 | ||
*由上海电子设计自动化发展促进会于2025/10/28 11:14:52在团体标准信息平台公布，最后修改时间：2025/10/28 11:14:52
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