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中国国际经济技术合作促进会自我承诺

  中国国际经济技术合作促进会发布的T/CIET 1679—2025《单分子定位超分辨显微成像技术规范》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则,按照在本平台公布的《标准制定程序文件_CIET》制定。T/CIET 1679—2025《单分子定位超分辨显微成像技术规范》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求,没有侵犯他人合法权益。
  中国国际经济技术合作促进会在自愿基础上作出本承诺,并对以上承诺内容的真实性负责。

中国国际经济技术合作促进会
2025年09月08日

团体详细信息
团体名称 中国国际经济技术合作促进会
登记证号 51100000500012876L 发证机关 中华人民共和国民政部
业务范围 国际合作 理论研究 技术交流 书刊编辑 业务培训 咨询服务
法定代表人/负责人 赵林
依托单位名称
通讯地址 北京市通州区经海五路1号院45号楼1层5-101 邮编 : 101111
标准详细信息
标准状态   现行
标准编号   T/CIET 1679—2025
中文标题   单分子定位超分辨显微成像技术规范
英文标题  
国际标准分类号   37.020
中国标准分类号  
国民经济分类   C404 光学仪器及眼镜制造
发布日期   2025年08月21日
实施日期   2025年08月21日
起草人   潘雷霆、李栋、王文娟、陈良怡、王宏达、胡芬、陆怀德、刘岩、吴永利、汪贤峰、贾国蕊、徐敬明、包瑾、余丽娜。
起草单位   纳微成像(天津)生物科技有限公司、北京纳析光电科技有限公司、清华大学、北京大学、广州微视光学科技有限公司、宁波纳微成像生物科技有限公司、通标中研标准化技术研究院(北京)有限公司、途邦认证有限公司。
范围   本文件规定了单分子定位超分辨显微成像技术的技术要求、检测方法、校准与维护、数据处理与分析以及报告等内容。 本文件适用于基于单分子定位原理的超分辨显微成像系统的设计、生产、检验和使用。
主要技术内容   本文件规定了单分子定位超分辨显微成像技术的技术要求、检测方法、校准与维护、数据处理与分析以及报告等内容。
本文件适用于基于单分子定位原理的超分辨显微成像系统的设计、生产、检验和使用。
是否包含专利信息  
标准文本   不公开
标准公告
  标准发布公告 2025/9/1 14:28:45

*由中国国际经济技术合作促进会于2025/9/1 14:28:45在团体标准信息平台公布,最后修改时间:2025/9/1 14:28:45

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