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中国联合国采购促进会自我承诺

  中国联合国采购促进会发布的T/UNP 733—2025《半导体热电致冷器件(TEC)测试方法》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则,按照在本平台公布的《标准制定程序文件_UNP》制定。T/UNP 733—2025《半导体热电致冷器件(TEC)测试方法》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求,没有侵犯他人合法权益。
  中国联合国采购促进会在自愿基础上作出本承诺,并对以上承诺内容的真实性负责。

中国联合国采购促进会
2025年07月04日

团体详细信息
团体名称 中国联合国采购促进会
登记证号 51100000500020331X 发证机关 中华人民共和国民政部
业务范围 政策研究、国际合作、业务培训、展览展示、信息交流、咨询服务
法定代表人/负责人 王栩男
依托单位名称
通讯地址 北京市西城区阜外大街乙22号 邮编 : 100007
标准详细信息
标准状态   现行
标准编号   T/UNP 733—2025
中文标题   半导体热电致冷器件(TEC)测试方法
英文标题   Test methods for thermoelectric cooling(TEC)semiconductor devices
国际标准分类号   31.080.01 半导体器分立件综合
中国标准分类号  
国民经济分类   C397 电子器件制造
发布日期   2025年06月18日
实施日期   2025年06月18日
起草人   胡晓明、姚文浩、樊希安、陈建民、陈磊、陈树山、阚宗祥、符国庆、占荣全、胡浩、朱安贫
起草单位   湖北赛格瑞新能源科技有限公司、河南鸿昌电子有限公司、香河东方电子有限公司、浙江万谷半导体有限公司、武汉科技大学
范围  
主要技术内容   本标准涵盖了半导体热电致冷器件多项可靠性测试。包括导线拉力测试,需施加不同方向静负荷并检查引出线;高温存储测试在特定温度下持续一定时间并测试内阻变化;恒定湿热测试于恒温恒湿环境进行;还有电致冷致热交变、耐压力、机械振动等测试,每项测试都有对应的设备、环境、试样制备、步骤及结果评估要求,适用于该器件可靠性测试,确保其在多种条件下性能稳定。
This standard covers multiple reliability tests for semiconductor thermoelectric cooling (TEC) 
devices. It includes the wire tension test, which requires applying static loads in different 
directions and checking the lead wires; the high-temperature storage test, which is conducted at a
 specific temperature for a certain period and involves testing the internal resistance change; 
the constant temperature and humidity test, 
which is carried out in a constant temperature and humidity environment; as well as the electro-
cooling and heating alternating test, pressure resistance test, mechanical vibration test, etc. 
Each test has corresponding requirements for equipment, environment, sample preparation, 
procedures and result evaluation, 
which is applicable to the reliability test of the devices to 
ensure their stable performance under various conditions.
是否包含专利信息  
标准文本   不公开
标准公告
  标准发布公告 2025/7/3 20:13:05

*由中国联合国采购促进会于2025/7/3 20:13:05在团体标准信息平台公布,最后修改时间:2025/7/3 20:13:05

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