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中国电子学会自我承诺

  中国电子学会发布的T/CIE 239—2024《电子材料表面α粒子辐射评估方法》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则,按照在本平台公布的《标准制定程序文件_CIE》制定。T/CIE 239—2024《电子材料表面α粒子辐射评估方法》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求,没有侵犯他人合法权益。
  中国电子学会在自愿基础上作出本承诺,并对以上承诺内容的真实性负责。

中国电子学会
2025年06月20日

团体详细信息
团体名称 中国电子学会
登记证号 社证字第4079号 发证机关 中华人民共和国民政部
业务范围 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务
法定代表人/负责人 陈英
依托单位名称 中华人民共和国工业和信息化部
通讯地址 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 邮编 : 100036
标准详细信息
标准状态   现行
标准编号   T/CIE 239—2024
中文标题   电子材料表面α粒子辐射评估方法
英文标题  
国际标准分类号   29.045
中国标准分类号  
国民经济分类   C397 电子器件制造
发布日期   2024年05月24日
实施日期   2024年05月24日
起草人   张战刚、雷志锋、彭超、何玉娟、马腾、张鸿、来萍、韦覃如。
起草单位   工业和信息化部电子第五研究所
范围  
主要技术内容   本文件规定了使用电离室技术对电子材料进行表面α粒子辐射评估的方法与程序。
本文件适用于塑封料、硅片、焊料、填充胶等电子材料,适用于航空、汽车、电网、通信等具有高可靠性、高安全性要求的应用领域。
是否包含专利信息  
标准文本   不公开
标准公告
  标准发布公告 2025/6/20 9:34:42

*由中国电子学会于2025/6/20 9:34:42在团体标准信息平台公布,最后修改时间:2025/6/20 9:34:42

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