| 标准详细信息 | |
|---|---|
| 标准状态 | 已公布 |
| 标准编号 | T/ZSA 231—2024 |
| 中文标题 | 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法 |
| 英文标题 | Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of Ga2O3 single crystal substrate |
| 发布日期 | |
| 实施日期 | |
| 范围 | 本文件描述了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法。 本文件适用于熔体法、液相法及气相法生长的β相氧化镓单晶片，对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法。 |
| 主要技术内容 | 本文件描述了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法。 本文件适用于熔体法、液相法及气相法生长的β相氧化镓单晶片，对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法。 |
| 标准购买信息 | |
| 出售价格 | 0.00元 |
| 联系人 | 慕超 |
| 联系电话 | 15510609010 |
| 手机号码 | 15510609010 |
| 传真 | |
| zgcsa@zgcsa.cn | |
| 简介 | |