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中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟自我承诺

  中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟发布的T/IAWBS 018—2022《金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则,按照在本平台公布的《标准制定程序文件_IAWBS》制定。T/IAWBS 018—2022《金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求,没有侵犯他人合法权益。
  中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟在自愿基础上作出本承诺,并对以上承诺内容的真实性负责。

中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
2022年12月16日

团体详细信息
团体名称 中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
登记证号 51110000MJ0117961F 发证机关 北京市民政局
业务范围 产业技术研发、科技成果转化、信息平台与专业数据库建设、自主品牌推广、专业咨询培训与会展、承接政府委托、国际交流与合作、团体标准制定。
法定代表人/负责人 刘祎晨
依托单位名称
通讯地址 北京市大兴区黄村镇丰远街1号院510办公室 邮编 : 102699
标准详细信息
标准状态   现行
标准编号   T/IAWBS 018—2022
中文标题   金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
英文标题   Test method for dislocation density of diamond single crystal polished wafers
国际标准分类号   29.045
中国标准分类号  
国民经济分类   C398 电子元件及电子专用材料制造
发布日期   2022年12月15日
实施日期   2022年12月22日
起草人   霍晓迪、金鹏、郑红军、冯梦阳、许敦洲、李红东
起草单位   中国科学院半导体研究所、中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、 北京三平泰克科技有限责任公司、吉林大学
范围   本文件规定了金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法。 本文件适用于金刚石单晶抛光片位错密度的测试。
主要技术内容   本标准根据金刚石单晶的材料性能特点,并结合目前国内外其他单晶如蓝宝石位错密度的检测技术的研究水平,对金刚石单晶抛光片位错密度的测试原理、测量精度保障、测量步骤等内容做出了规定。
是否包含专利信息  
标准文本   不公开
标准公告
  标准发布公告 2022/12/16 16:44:46

*由中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟于2022/12/16 16:44:46在团体标准信息平台公布,最后修改时间:2022/12/16 16:44:46

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