中国电子学会自我承诺
中国电子学会发布的T/CIE 116—2021《电子元器件故障树分析方法与程序》团体标准遵循开放、公平、透明、协商一致和促进贸易和交流的原则，按照在本平台公布的《标准制定程序文件_CIE》制定。T/CIE 116—2021《电子元器件故障树分析方法与程序》团体标准规定的内容符合国家有关法律法规和强制性标准的要求，没有侵犯他人合法权益。
中国电子学会在自愿基础上作出本承诺，并对以上承诺内容的真实性负责。
中国电子学会
2022年01月25日
| 团体详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 团体名称 | 中国电子学会 | ||
| 登记证号 | 社证字第4079号 | 发证机关 | 中华人民共和国民政部 |
| 业务范围 | 学术交流 教育普及 书刊编辑 评审鉴定 专业展览 咨询服务 | ||
| 法定代表人/负责人 | 陈英 | ||
| 依托单位名称 | 中华人民共和国工业和信息化部 | ||
| 通讯地址 | 北京市玉渊潭南路普惠南里13号 | 邮编 : 100036 | |
| 标准详细信息 | |||
|---|---|---|---|
| 标准状态 | 现行 | ||
| 标准编号 | T/CIE 116—2021 | ||
| 中文标题 | 电子元器件故障树分析方法与程序 | ||
| 英文标题 | |||
| 国际标准分类号 | 31.080.01 半导体器分立件综合 | ||
| 中国标准分类号 | |||
| 国民经济分类 | C397 电子器件制造 | ||
| 发布日期 | 2021年11月22日 | ||
| 实施日期 | 2022年02月01日 | ||
| 起草人 | 何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉，支越，路国光，任艳 | ||
| 起草单位 | 工业和信息化部电子第五研究所 | ||
| 范围 | |||
| 主要技术内容 | 本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求，解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题，可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻辑关系清晰的电子元器件故障信息库。本文件方法适用于产品尺寸小、内部结构性能难以直接测量的电子元器件产品。 | ||
| 是否包含专利信息 | 是 | ||
| 标准文本 | 查看 | ||
| 标准公告 | |||
|---|---|---|---|
| 标准发布公告 | 2022/1/25 16:10:37 | ||
*由中国电子学会于2022/1/25 16:10:37在团体标准信息平台公布，最后修改时间：2022/1/25 16:10:37
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