注册 | 个人登录 | 团体登录
团体新闻 当前位置:首页 > 团体新闻
《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》等4项团体标准审查会召开
《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》等4项团体标准审查会召开
发布人:徐州市发明协会 发布时间:2021-04-07

 

《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》、《封装基板阻抗值测试设备》等4项团体标准审查会,于2021年4月6日通过腾讯会议召开,会议由徐州市发明协会常务副会长孟庆才主持。

由徐州市发明协会组织国家标准技术审评中心原国家标准技术审核专家李六有工程师、江苏师范大学赵波教授、北京邮电大学王俊教授、中国科学院半导体研究所罗帅副研究员、江苏影速集成电路装备股份有限公司李世光研究员等5名专家参加了审查会。会议推选国家标准技术审评中心原国家标准技术审核专家李六有担任审查专家组长。

《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》、《封装基板阻抗值测试设备》等4项团体标准是由上达电子(深圳)股份有限公司、江苏上达电子有限公司、深圳市诚亿自动化科技有限公司、江苏华商企业管理咨询服务有限公司等单位提出,由徐州市发明协会归口管理的团体标准。

上达电子(深圳)股份有限公司联合江苏上达电子有限公司、深圳市诚亿自动化科技有限公司、江苏华商企业管理咨询服务有限公司、武汉大学等单位组织专家编写了《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》(项目编号:T/XAI2021-01);《覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库伦法》(项目编号:T/XAI2021-02);《覆晶薄膜油墨硬度测试方法》(项目编号:T/XAI2021-03);《封装基板阻抗值测试设备》(项目编号:T/XAI2021-04)等4项团体标准。

专家审查会1.jpg

审查专家组在听取标准编制组汇报后,对标准文本进行了逐条审查,专家从术语定义、技术要求、原理、检测方法等方面给予了十分中肯而专业的修改意见并进行投票表决。专家审查结论如下:

1. 提供《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》(项目编号:T/XAI2021-01);《覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库伦法》(项目编号:T/XAI2021-02);《覆晶薄膜油墨硬度测试方法》(项目编号:T/XAI2021-03);《封装基板阻抗值测试设备》(项目编号:T/XAI2021-04)等4项团体标准审查会议的技术文件资料齐全、完整、真实可靠,符合《徐州市发明协会团体标准管理办法》(徐发协字〔2016〕7号)团体标准审查要求。

2.该标准的技术指标和检测方法合理、具有可操作性,能满足相关方使用的要求。

3.该标准格式规范,内容完整,表述明了,文字精炼,符合GB/T1.1-2020的有关要求。

综上所述,与会专家组一致认为:《覆晶薄膜耐弯折性测试方法》(送审稿)等4项团体标准,符合《徐州市发明协会团体标准管理办法》(徐发协字〔2016〕7号)和《徐州市发明协会团体标准管理办法实施细则》(徐发协字〔2016〕8号)等文件和国家有关法律、法规及相关产业政策的要求,并满足企业实际使用需要,建议将标准按照专家审查意见修改完善后,报徐州市发明协会批准为团体标准。

该4项团体标准通过专家审查后,按照专家审查意见修改完善后,形成团体标准报批稿,将于2021年4月中旬正式发布实施。

专家审查会2.jpg