各相关单位：

石墨烯薄膜在柔性显示、电子器件、芯片等领域的应用开发方兴未艾，其优异的晶体质量是实现大规模应用的前提。目前，业界常通过制作器件（如场效应晶体管、霍尔棒）来测量石墨烯薄膜的载流子迁移率，进而评价石墨烯薄膜晶体质量（结构完美程度），但该方法存在器件制备过程复杂、成本高、耗时长，并且器件制备工艺及测量环境对测量结果影响大等不足。近年来，电子科技大学李雪松教授针对这一测量难题，成功开发了一种新型测试方法，通过对转移后的石墨烯薄膜直接测量其霍尔迁移率，从而可以精确评估其质量。该成果已发表在Science Bulletin期刊（2018年，63期，1521-2526）。

鉴于该方法制定标准的重要意义，石墨烯联盟拟组织电子科技大学、西湖大学、国家石墨烯产品质量监督检验中心（广州）以及石墨烯薄膜制备和应用厂家等单位，共同开展本标准的制定。为推动该项标准顺利启动，联盟标委会定于7月22日召开标准的立项研讨会，邀请李雪松老师介绍新方法的原理和测试关键步骤等。现邀请联盟会员单位积极参加。会议有关事项通知如下：

一、时间和地点

1、会议时间： 2020年7月22日14：00-16：00。

2、会议形式：腾讯APP网络会议。

3、会议报名：请联盟会员单位相关负责人确定与会人员，并将名单回执发送至联盟邮箱 standard@c-gia.org，收到邮件后联盟提供会议账号和密码。

二、会议议程

1. 《石墨烯薄膜电性能测试 范德堡-霍尔测试法》团标立项研讨会；

三、参加人员

1. 石墨烯联盟会员单位；

2. 其他相关检测机构和应用单位。

联系人：杨惠恋15801339853，戴石锋13811062632。

邮箱：standard@c-gia.org

中关村华清石墨烯产业技术创新联盟

2020年7月14日

附件一：石墨烯薄膜测试标准立项研讨会报名表

与会人员名单回执

单位（盖章）：                                   是否会员：